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跌落試驗(yàn)
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電子產(chǎn)品跌落測(cè)試方法有哪些?
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電子產(chǎn)品跌落測(cè)試方法有哪些?
跌落測(cè)試簡(jiǎn)介
跌落測(cè)試通常是主要用來模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落,考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn),落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面(如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測(cè)試規(guī)范來決定)。
對(duì)于不同國(guó)際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同,對(duì)于手持型產(chǎn)品(如手機(jī)、平板等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等,IEC對(duì)于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞,MIL則建議掉落高度為122cm,Intel對(duì)手持型產(chǎn)品(如手機(jī))則建議落下高度為150cm。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。
電子產(chǎn)品跌落測(cè)試方法及試驗(yàn)條件
方法一:自由跌落
目的:確定產(chǎn)品在搬運(yùn)期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應(yīng)性,或確定安全要求用的最低牢固等級(jí)。本試驗(yàn)主要用于非包裝的試驗(yàn)樣品,以及在運(yùn)輸箱中其包裝可以作為樣品一部分的試驗(yàn)樣品。
試驗(yàn)條件:
試驗(yàn)表面:試驗(yàn)表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面。必要時(shí),有關(guān)規(guī)范可以規(guī)定其他表面。
跌落高度:是指試驗(yàn)樣品在跌落前懸掛著的時(shí)候,試驗(yàn)表面與離它最近的樣品部位之間的高度。
釋放方法:釋放試驗(yàn)樣品的方法應(yīng)使試驗(yàn)樣品從懸掛著的位置自由跌落。釋放時(shí),要使干擾最小。
嚴(yán)酷等級(jí):應(yīng)從下列諸值中選取跌落高度:(25)、50、(100)、250、(500)、(1000)mm。帶括號(hào)的數(shù)值是優(yōu)選值。注:重型設(shè)備不宜經(jīng)受較高的嚴(yán)酷等級(jí)。
除非有關(guān)規(guī)范另有規(guī)定,試驗(yàn)樣品應(yīng)該從每個(gè)規(guī)定的位置跌落兩次。試驗(yàn)樣品應(yīng)按有關(guān)規(guī)范進(jìn)行外觀檢測(cè)、電性能和機(jī)械性能檢測(cè)。
方法二:重復(fù)自由跌落
目的:確定可能頻繁跌落到硬表面的接有電纜的元件型裝置,例如連接器和小型遙控裝置,經(jīng)受重復(fù)跌落的適應(yīng)性。
一般說明:本試驗(yàn)方法是使試驗(yàn)樣品從規(guī)定的高度按規(guī)定的次數(shù)跌落到硬表面上,為了模擬實(shí)際條件,每個(gè)試驗(yàn)樣品應(yīng)單獨(dú)受試,并且通常都帶有一段電纜。試驗(yàn)的結(jié)果應(yīng)通過試驗(yàn)樣品的機(jī)械、電性能的變化來評(píng)定。
嚴(yán)酷次數(shù):50、100、200、500、1000.
跌落高度為:500mm
跌落頻率:每分鐘十次。
跌落試驗(yàn)-標(biāo)準(zhǔn)
◆ GB/T 4857.1 ◆ GB/T 4857.2 ◆ GB/T 4857.5 ◆ GB/T 4857.17 ◆ GB/T 4857.18
跌落試驗(yàn)-跌落高度
針對(duì)跌落實(shí)驗(yàn)國(guó)家有專門的標(biāo)準(zhǔn),跌落方式都是一角、三邊、六面之自由落體,跌落的高度是根據(jù)產(chǎn)品重量而定。
分2250px、1900px、1625px幾個(gè)等級(jí)
包裝貨物重量(lbs)/(㎏)落下高度(inches)/(㎝)
1-20.99 lbs(0.45-9.54㎏)0in /(76.20㎝)
21-40.99 lbs(9.55-18.63㎏)24in /(60.96㎝)
41-60.99 lbs(18.64-27.72 ㎏)18in /(45.72㎝)
61-100 lbs(27.73-45.45㎏)2in /(30.48㎝)
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